Resumo:
O surgimento de novas tecnologias agregadas ao controle dimensional evoluiu significativamente nas últimas duas décadas, especialmente no tocante às metodologias “sem contato”. Avanços surpreendentes tiveram as máquinas de medição por coordenadas, que introduziram essas metodologias em seus pórticos, multiplicando as alternativas para soluções metrológicas de problemas envolvidos nas tarefas e de pesquisa avançada. Tendo em vista este novo cenário, o presente artigo trata a respeito do comparativo, resultados e discussões a respeito dos métodos de medição com e sem contato, utilizando-se uma máquina de medição de perfil e uma multissensor.
Referência:
YAMANAKA, Douglas Mamoru; CASTANHO, Manuel António Pires. Validação de metodologia de medição de padrão de perfil usando técnicas de medição com e sem contato. In: CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELÉTRICO – SEMETRO, 13., 2019, Florianópolis. Anais… 8 p.
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https://escriba.ipt.br/pdf_restrito/176560.pdf
O surgimento de novas tecnologias agregadas ao controle dimensional evoluiu significativamente nas últimas duas décadas, especialmente no tocante às metodologias “sem contato”. Avanços surpreendentes tiveram as máquinas de medição por coordenadas, que introduziram essas metodologias em seus pórticos, multiplicando as alternativas para soluções metrológicas de problemas envolvidos nas tarefas e de pesquisa avançada. Tendo em vista este novo cenário, o presente artigo trata a respeito do comparativo, resultados e discussões a respeito dos métodos de medição com e sem contato, utilizando-se uma máquina de medição de perfil e uma multissensor.
Referência:
YAMANAKA, Douglas Mamoru; CASTANHO, Manuel António Pires. Validação de metodologia de medição de padrão de perfil usando técnicas de medição com e sem contato. In: CONGRESSO INTERNACIONAL DE METROLOGIA ELÉTRICO – SEMETRO, 13., 2019, Florianópolis. Anais… 8 p.
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