Um mestrado desenvolvido através do Projeto Novos Talentos do Instituto, com recursos da Fundação de Apoio ao IPT (Fipt), ganhou projeção internacional devido à utilização da microscopia FIB (Feixe de Íons Localizado), técnica que permite cortar e caracterizar in loco a microestrutura de sessões transversais de amostras, debris e óxidos localizados superficialmente. O trabalho foi realizado no Centro de Tecnologia em Metalurgia e Materiais (CTMM) pela aluna Ana Cecília Pontes Rodrigues, da Escola Politécnica da USP (Poli). A parceria, além de consolidar a capacitação do IPT na técnica e permitir a realização de parte fundamental da dissertação de mestrado, deu maior visibilidade ao Instituto e promoveu sua aproximação junto à universidade.
O estudo se concentrou no efeito da adição de material particulado (como cobre, grafite e óxido de ferro) no coeficiente de atrito e no desgaste entre duas superfícies de aço. Segundo Ana Cecília, a tecnologia, acessível no País exclusivamente por meio da parceria com o IPT, foi fundamental para a precisão das conclusões sobre a importância do cobre na formação da camada óxida entre duas superfícies que se atritam. Após ensaios de interação entre as superfícies, essa fina camada não poderia ser destruída ou alterada durante a preparação e a caracterização de sessões transversais das amostras.
“O FIB joga um feixe de íons de gálio exatamente no lugar especificado e faz uma microusinagem. Dentro do equipamento, você consegue cortar a amostra e caracterizar o filme de óxido, debris metálicos e a microestrutura da região deformada plasticamente do aço. Esta caracterização seria mais difícil e menos precisa [sem o aparelho], com grandes chances de caracterizar artefatos de preparação”, salienta ela.
Segundo a pesquisadora, sem a infraestrutura do IPT o estudo não alcançaria o nível dos trabalhos de caracterização publicados no mundo. Ela também ressalta a importância do Projeto Novos Talentos em sua formação acadêmica e profissional: “Além do acesso aos equipamentos, o contato com os pesquisadores do Instituto acrescentou muito à minha maturidade profissional”.
Aparelho de Microscopia FIB, que permite o corte e caracterização precisa de microestruturas de sessões transversais de amostras, debris e óxidos superficiais
INTERAÇÃO – Cesar R. F. Azevedo, atualmente professor do Departamento de Engenharia Metalúrgica e de Materiais da Poli e orientador de Ana Cecília, destaca a importância da infraestrutura do IPT (onde já atuou como pesquisador) e dos benefícios da parceria tanto para a aluna quanto para o Instituto e para a Poli: “Foi fundamental. Com a utilização da microscopia FIB o trabalho ganhou mais credibilidade. [O programa] ajudou o trabalho a ter mais visibilidade e precisão. Trata-se de uma técnica ainda não disponível na universidade”, afirma ele.
Azevedo ressalta que o programa Novos Talentos é um bom começo na construção de uma parceria mais efetiva entre o IPT e a universidade. Segundo ele, essa interação é benéfica às duas instituições, já que evita a duplicação de equipamentos no campus, aumenta a qualidade e a rastreabilidade das pesquisas realizadas nas unidades da USP e estimula o desenvolvimento da capacitação laboratorial do IPT.
Mario Boccalini Junior, diretor do CTMM do IPT, reitera a posição de Azevedo: “A realização do trabalho permitiu aumentar sobremaneira o grau de domínio da técnica [FIB], ainda nova também para os pesquisadores do IPT. A importância decorre de permitir e incentivar o estreitamento de relações com as universidades, além de possibilitar o aumento da produção tecnológica do Instituto por meio do trabalho dos bolsistas”.
